我們相信優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應(yīng)商！
2025-02-18 硅片電阻率測試儀的準(zhǔn)備事項(xiàng)設(shè)置的步驟
2024-11-14 九域半導(dǎo)體科技通過知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)
2025-02-08 2024-10-17 2025-04-30 產(chǎn)品中心/ products
金剛石膜檢測與測試報(bào)告 檢測項(xiàng)目 金剛石膜的檢測項(xiàng)目主要包括以下幾個(gè)方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-06-26訪 問 量：672
立即咨詢
聯(lián)系電話：
?金剛石厚度測試的方法主要包括以下幾種?：
?X射線檢測?：將樣品放置在X射線檢測機(jī)的樣品室載物臺上，曲面朝上，用美工膠紙固定。調(diào)整工作電壓至90KV，工作電流100μA，選擇合適的放大倍數(shù)拍照、測量并保存數(shù)據(jù)。X射線檢測可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的邊界和各層厚度?1。
?超聲檢測?：使用水浸超聲掃描顯微鏡設(shè)備進(jìn)行檢測。將金剛石復(fù)合片放入設(shè)備探頭正下方，校準(zhǔn)探頭及工件參數(shù)，進(jìn)行超聲檢測。超聲C掃描呈像可以清晰地顯示金剛石復(fù)合片的厚度和內(nèi)部缺陷情況，如裂痕和空洞等?2。
?三維工業(yè)CT/X-RAY?：通過三維工業(yè)CT或X射線掃描設(shè)備，可以提供高精度的內(nèi)部缺陷檢測。這種方法適用于芯片和電子器件的內(nèi)部缺陷檢測，能夠精準(zhǔn)定位內(nèi)部問題?
返回列表
與我們產(chǎn)生合作，還原您產(chǎn)品藍(lán)圖里應(yīng)有的樣子!
立即聯(lián)系我們
Copyright ©2025 九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司 All Rights Reserved 備案號：蘇ICP備2023057191號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
您的位置：
